DUMLER, I.; RODRÍGUEZ, G. Técnica de réplicas para fractografía en microscopía electrónica. Revista IDIEM, [S. l.], v. 5, n. 2, p. Pág. 101–108, 2016. Disponível em: https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38443. Acesso em: 28 abr. 2024.