LYON, P.; KITTL, P. Aplicación de la microscopía electrónica de barrido al estudio del cemento. Revista IDIEM, [S. l.], v. 12, n. 2, p. Pág. 98–102, 2016. Disponível em: https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38633. Acesso em: 27 abr. 2024.