Rodriguez, G. (2016) «Notas técnicas. El laboratorio de microscopía electrónica del IDIEM. Escala de intensidades de los fenómenos sísmicos», Revista IDIEM, 4(1), pp. Pág. 61–67. Disponible en: https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38399 (Accedido: 27 abril 2024).