Rodriguez, G. «Notas técnicas. El Laboratorio De microscopía electrónica Del IDIEM. Escala De Intensidades De Los fenómenos sísmicos». Revista IDIEM, vol. 4, n.º 1, enero de 2016, pp. Pág. 61-67, https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38399.