Lyon, Patricio, y Pablo Kittl. «Aplicación De La microscopía electrónica De Barrido Al Estudio Del Cemento». Revista IDIEM 12, no. 2 (enero 21, 2016): Pág. 98–102. Accedido abril 27, 2024. https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38633.