Aplicación de la microscopía electrónica de barrido al estudio del cemento

  • Patricio Lyon
  • Pablo Kittl
Compartir
Cómo citar
Lyon, P., & Kittl, P. (2016). Aplicación de la microscopía electrónica de barrido al estudio del cemento. Revista IDIEM, 12(2), Pág. 98-102. Consultado de https://revistaidiem.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38633/40274
Publicado
2016-01-21